L'Application De La Microscopie A Effet Tunnel Optique Dans La Caractérisation

Des Surfaces Des Matériaux Transparents

M. Bouchaour1*, M. C. Mered2, N. Diaf1, L. Benseddik3, N. Chabane Sari1

1 Laboratoire de Matériaux et Energies Renouvelables, Faculté des sciences,

Université Abou Bekr Belkaid, B.P 119, Tlemcen, 13000, Algérie

2 Département de Physique, Faculté des Sciences, Université de Tlemcen, Algérie

3 Département de Génie Mécanique, Faculté des Sciences de L'Ingénieur, Université de Tlemcen, Algérie

* Corresponding author. E-mail : m_bouchaour@mail.univ-tlemcen.dz

Received : 04 May 2002; revised version accepted : 09 April 2003

Abstract 

This work deals with the application of the scanning tunnelling optical microscopy in the characterization of surface’s states of transparent materials.

The scanning tunnelling optical microscope constitutes a powerful tool for the observation of conducting or insulating surfaces on an atomic scale. Functioning in many environments (vacuum, air, liquid), these microscopes are used in very varied fields of physics and chemistry. This technique is based on the tunnel effect established between a tip and a sample separated by a distance lower than the nanometer. The topography of the surface of the object is reproduced thanks to the very local character of collected information. Our aim is to present the scanning tunnelling optical microscope as well as the results obtained by studying surface of a transparent material.

Keywords: Scanning tunnelling optical microscopy; Near field; Transparent material.

Résumé

Le présent travail porte sur l'application de la microscopie à effet tunnel optique dans la caractérisation des états de surface des matériaux transparents.

Le microscope à effet tunnel optique constitue un outil performant pour l'observation des surfaces conductrices ou isolantes à l'échelle atomique. Fonctionnant dans de nombreux environnements (vide, air, liquide), ces microscopes sont utilisés dans des domaines très variés de la physique et de la chimie. Cette technique est basée sur l'effet tunnel s'établissant entre une pointe et un échantillon séparés par une distance inférieure au nanomètre. La topographie de la surface de l'objet est reproduite grâce au caractère très local de l'information recueillie. Notre but est de présenter le microscope optique à effet tunnel ainsi que les résultats obtenus en étudiant la surface d'un matériau transparent.

Mots clés: Microscopie à effet tunnel optique; Champ proche; Matériau transparent.

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