PRÉPARATION DES COUCHES MINCES DE SULFURE DE CADMIUM

PAR DÉPÔT CHIMIQUE DANS L’ACÉTONITRILE

M. Samba1, F. Hellal2, M. Dachraoui1*

1Laboratoire de Chimie Analytique et Électrochimie, Département de Chimie,

Faculté des Sciences de Tunis, Campus universitaire – 1060 Tunis, Tunisie.

2Institut National des Sciences Appliquées et de Technologie,

BP. 676 – 1080 Tunis Cedex, Tunisie

* Corresponding author. E-mail : m.dachraoui@planet.tn

Received : 16 October 2002; revised version accepted : 03 April 2003

Abstract

Cadmium sulfide thin films have been prepared by chemical deposition in acetonitrile. The application of the Doehlert matrix allowed to determine the optimal deposition conditions with a low number of experiences. The complexes that Cd2+ ions form with thiourea, thioacetamide and N,N-dimethyl,N’-phenylthiourea have been studied in acetonitrile by potentiometry measurements using a Cd2+ ionic selective electrode. Their stability constants were determined. The thin films were characterised by X-ray diffraction (XRD), by scanning electron microscopy (SEM) and by optical measurements of transmission and reflection. The value of bandgap is 2.3 eV.

Keywords : Cadmium sulfide; Chemical deposition in acetonitrile; Doehlert matrix; cadmium(II); Sulfur ligands; Potentiometry.

Résumé 

Des couches minces de sulfure de cadmium ont été préparées par la méthode de dépôt chimique dans l’acétonitrile. L’application de la matrice de Doehlert a permis la détermination des conditions optimales de dépôt avec un minimum d’expériences. Les complexes que forment les ions Cd2+ avec la thiourée, la thioacétamide et la N,N-diméthyl,N’-phénylthiourée ont été étudiés dans l’acétonitrile par potentiométrie en utilisant une électrode ionique sélective de Cd2+. Leurs constantes de stabilité ont été déterminées. Les couches ont été caractérisées par diffraction aux rayons X, par microscopie électronique à balayage (MEB) et par des mesures optiques de transmission et de réflexion. La valeur de la largeur de bande interdite de CdS obtenue est de 2,3 eV.

Mots clés : Sulfure de cadmium; Dépôt chimique dans l’acétonitrile; Matrices de Doehlert; Cadmium(II); Ligands soufrés; Potentiométrie.

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